Система MPD 3000 с пятью степенями свободы предлагает аналитические решения для широкого диапазона задач, от рутинного количественного и качественного анализа, до анализа остаточных напряжений, тонких пленок, исследований в специальных климатических условиях, количественного определения остаточного аустенита, размера кристаллитов / напряжений решетки и расчета кристалличности, текстуры и предпочтительной ориентации.

Дифрактометр MPD 3000 позволяет выполнять с высоким разрешением рефлектометрические исследования тонких пленок (толщиной от 1 до 500 нм с точностью выше 1%), определять плотность (с точностью лучше 0.03 г/см2), шероховатость поверхности и границ раздела (толщиной от 0 до 5 нм с точностью лучше 0.1 мм).

Гибкость и модульность без границ.

C дифрактометром MPD 3000 перед Вами от откроются безграничные возможности для исследований:

  • возможность использования различных детекторов: сцинтилляционных, позиционно-чувствительных и полупроводниковых;
  • рентгеновская дифракция высокого разрешения (HRXRD) и рентгеновская рефлектометрия (XRR);
  • отличные источники рентгеновского излучения, стеклянные и керамические трубки плюс параболическое зеркало;
  • надежное и быстрое позиционирование гониометра шаговыми двигателями с оптическими декодерами;
  • пять степеней свободы, все автоматизированы;
  • высокое разрешение за счет асимметричного 4-х кратного Ge (220) монохроматора;
  • возможность установки различных приставок для выполнения специальных исследований, высоко- и низко- температурные камеры и устройства создания влажности;
  • высокая механическая стабильность гониометра, расположенного на мраморном столе;
  • автоматизированный держатель проб с перемещением по оси Z, phi и chi;
  • дифракция на углах скользящих углах (GID);
  • измерение напряжений и текстуры;
  • очень хорошее соотношение пика к фону при использовании вторичных монохроматоров

Пять степеней свободы.

Сегмент круга Chi позволяет поворачивать пробу на круге Chi в диапазоне до 40° (±20° или 0—40°) с точностью 0.01°. Очень хорошо подходит для анализа остаточного напряжения.

Гониометр круга Phi позволяет поворачивать пробу на круге Phi в диапазоне 0—360° с точностью 0.01°. В сочетании с кругом Chi его можно использовать для текстурного анализа.

Z-столик позволяет перемещать пробу по оси Z на расстояние до 15 мм с точностью до 0.01 мм. Очень хорошо подходит для юстировки пробы.

Конструктивные особенности
  • Модульная конструкция позволяет менять местами компоненты системы и выполнять исследования разнообразных порошков, монолитных материалов и тонких пленок.
  • Оптическая схема позволяет переключаться между геометрией Брэгга — Брентано и геометрией фокусирующего и параллельного пучка, использующей монохроматоры Йохансона или монохроматоры параболического зеркала.
  • Малые углы измерения и тонкопленочная приставка для геометрии параллельного пучка позволяют выполнять исследования тонких пленок и многослойных объектов.
  • Комбинация шаговых моторов и оптических декодеров гарантирует быстродействие и исключительную точность работы приводов.
  • Сочетание монохроматора с параболическим зеркалом и кристалла с вырезанным каналом, установленного на пути падающего пучка, позволило получить монохроматический параллельный пучок высокой интенсивности и низкой расходимости, которые необходимы для измерений с высоким разрешением.
  • Мощное и дружественное программное обеспечение IS-MAUD еще более упрощает измерения и содержит множество разнообразных возможностей интерпретации результатов.
Технические характеристики
Детекторы
сцинтилляционный счетчик NaI (до 2'000'000 имп/сек); проточно-пропорциональный быстрый детектор на 10°
Рентгеновский генератор
напряжение 10—60 кВ;
ток пучка 10—60 мА;
мощность: 3 кВт
Выходная стабильность генератора
< 0.01% (на 10% колебаний питания)
Рентгеновские трубки
возможна комплектация обычными, длиннофокусными трубками, трубками с широким фокусом, с анодами из Cu, W, Mo, Co, Fe, Cr, Ag, по выбору заказчика
Экранирование рентгеновской трубки
двухкоординатный и поворотный блок
Гониометр
независимый горизонтальный θ-2θ
Диаметр
350—440 мм
Угловой диапазон
-60° < 2θ < +165° (горизонтальный)
Минимальный размер шага
0.0001° (2θ)
Угловая воспроизводимость
0.0001° (2θ)
Угловая скорость
1000°/мин
Режимы работы
непрерывное сканирование, шаговое сканирование, сканирование под углом θ или 2θ, быстрое сканирование, колебание по оси θ
Щели, обеспечивающие расходимость пучка
4°, 2°, 1°, ½°, ¼°
Щели с нулевой расходимостью
4°, 2°, 1°, ½°, ¼°
Принимающие щели
0.3, 0.2, 0.1 мм
Коллиматорные щели
Держатель проб
0° ≤ Chi ≤ +40° или -20° ≤ Chi ≤ +20°;
-∞ ≤ Phi ≤ +∞;
Z диапазон 15 мм, монтажная площадь 100 х 100 мм
Комплект для юстировки
юстировочный микроскоп и инструменты
Управление через компьютер
включение/выключение рентгеновского излучения, установки напряжения (кВ) и тока (мА), заслонки. Управление приставками специального назначения
Базовая обработка данных
количественный и качественный фазовый анализ; анализ Ритвельда, структурный кристаллический анализ, размер кристаллитов и напряжение решетки, расчет кристалличности, текстура, напряжение, рефлектометрия; моделирование дифрактограмм, расчет ODF несколькими методами
Защитные устройства
механизм блокировки дверей, кнопка аварийного выключения, лампочка–индикатор рентгеновского излучения
Утечка рентгеновского излучения
< 1 mSv/год
Водяное охлаждение
поток 4 л/мин, давление до 6 бар
Питание
220 В, максимальный ток 40А, 5.5 кВт
Габариты
107 х 183 х 75 см
Вес
400 кг
вернуться в раздел «Порошковые рентгеновские дифрактометры (XRD)»