Дифрактометр с пятью степенями свободы GNR MPD 3000

Система MPD 3000 с пятью степенями свободы предлагает аналитические решения для широкого диапазона задач, от рутинного количественного и качественного анализа, до анализа остаточных напряжений, тонких пленок, исследований в специальных климатических условиях, количественного определения остаточного аустенита, размера кристаллитов / напряжений решетки и расчета кристалличности, текстуры и предпочтительной ориентации.

Дифрактометр MPD 3000 позволяет выполнять с высоким разрешением рефлектометрические исследования тонких пленок (толщиной от 1 до 500 нм с точностью выше 1%), определять плотность (с точностью лучше 0.03 г/см^{2), шероховатость поверхности и границ раздела (толщиной от 0 до 5 нм с точностью лучше 0.1 мм).}

Гибкость и модульность без границ.

C дифрактометром MPD 3000 перед Вами от откроются безграничные возможности для исследований:

• возможность использования различных детекторов: сцинтилляционных, позиционно-чувствительных и полупроводниковых;
• рентгеновская дифракция высокого разрешения (HRXRD) и рентгеновская рефлектометрия (XRR);
• отличные источники рентгеновского излучения, стеклянные и керамические трубки плюс параболическое зеркало;
• надежное и быстрое позиционирование гониометра шаговыми двигателями с оптическими декодерами;
• пять степеней свободы, все автоматизированы;
• высокое разрешение за счет асимметричного 4-х кратного Ge (220) монохроматора;
• возможность установки различных приставок для выполнения специальных исследований, высоко- и низко- температурные камеры и устройства создания влажности;
• высокая механическая стабильность гониометра, расположенного на мраморном столе;
• автоматизированный держатель проб с перемещением по оси Z, phi и chi;
• дифракция на углах скользящих углах (GID);
• измерение напряжений и текстуры;
• очень хорошее соотношение пика к фону при использовании вторичных монохроматоров

Пять степеней свободы.

Сегмент круга Chi позволяет поворачивать пробу на круге Chi в диапазоне до 40° (±20° или 0—40°) с точностью 0.01°. Очень хорошо подходит для анализа остаточного напряжения.

Гониометр круга Phi позволяет поворачивать пробу на круге Phi в диапазоне 0—360° с точностью 0.01°. В сочетании с кругом Chi его можно использовать для текстурного анализа.

Z-столик позволяет перемещать пробу по оси Z на расстояние до 15 мм с точностью до 0.01 мм. Очень хорошо подходит для юстировки пробы.